本發(fā)明公開(kāi)一種奧氏體不銹鋼離子輻照后鐵素體轉(zhuǎn)變量的磁性無(wú)損檢測(cè)方法,包括以下步驟:(1)將奧氏體不銹鋼加工成圓片后進(jìn)行固溶處理;(2)對(duì)圓片進(jìn)行磁性測(cè)量,獲得未輻照奧氏體不銹鋼的磁滯回線第一M?H曲線;(3)將圓片進(jìn)行離子輻照,獲得離子輻照損傷區(qū)域的等效厚度L1;(4)將輻照后的奧氏體不銹鋼進(jìn)行磁性測(cè)量,獲得輻照后奧氏體不銹鋼的磁滯回線第二M?H曲線;(5)將第二M?H曲線扣除未輻照奧氏體不銹鋼對(duì)第一M?H曲線的貢獻(xiàn),獲得輻照后奧氏體不銹鋼的飽和磁化強(qiáng)度Ms;(6)采用
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計(jì)算獲得輻照損傷部分的飽和磁化強(qiáng)度Mst;(7)采用
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計(jì)算獲得離子輻照后奧氏體不銹鋼中的鐵素體轉(zhuǎn)變量,該方法測(cè)量方便,樣品尺寸小、數(shù)據(jù)精度高、重復(fù)性好。
聲明:
“奧氏體不銹鋼離子輻照后鐵素體轉(zhuǎn)變量的磁性無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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