本發(fā)明涉及一種利用高光譜圖像技術(shù)進(jìn)行蘋果粉質(zhì)化無損檢測方法。本發(fā)明的技術(shù)方案為:a、選取蘋果樣本;b、將蘋果樣本放置在高光譜圖像采集系統(tǒng)中,采集對應(yīng)蘋果樣本的高光譜圖像,并將所述光譜圖像量化成對應(yīng)于不同光波長的數(shù)據(jù)矩陣;c、利用奇異值分解得到數(shù)據(jù)矩陣的奇異值矩陣;d、利用破壞性儀器采集蘋果樣本的汁液含量和壓縮硬度指標(biāo),得到蘋果粉質(zhì)化結(jié)果;e、利用支持向量機(jī)構(gòu)建蘋果粉質(zhì)化評價預(yù)估模型;f、采集高光譜圖像,并輸入到評價預(yù)估模型中,獲得蘋果粉質(zhì)化評價結(jié)果。本發(fā)明通過評價預(yù)估模型及高光譜圖像采集系統(tǒng)獲得蘋果的粉質(zhì)化評價結(jié)果,能夠在多數(shù)蘋果無損的情況下,得到粉質(zhì)化評價結(jié)果;操作簡單,實時性好,可靠性高。
聲明:
“利用高光譜圖像技術(shù)進(jìn)行蘋果粉質(zhì)化無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)