本發(fā)明涉及一種多孔材料內(nèi)部缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法,其解決了現(xiàn)有檢測(cè)方法具有不可恢復(fù)的破壞性、耗時(shí)長(zhǎng)且檢測(cè)成本高等技術(shù)問(wèn)題,包括如下步驟:制樣、掃描、數(shù)據(jù)重建和處理、數(shù)據(jù)分析、三維模型重構(gòu),本發(fā)明可用于多孔材料內(nèi)部缺陷的無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域。
聲明:
“多孔材料內(nèi)部缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)