本實用新型公開了一種無損檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊,包括方形試塊和圓形試塊,所述方形試塊包括第一梯塊、第二梯塊、第三梯塊和第四梯塊,所述圓形試塊包括第一柱塊、第二柱塊、第三柱塊和第四柱塊,所述第一梯塊的一側(cè)固定連接有第二梯塊,所述第二梯塊的一側(cè)固定連接有第三梯塊,所述第三梯塊的一側(cè)固定連接有第四梯塊,所述第四梯塊的一側(cè)固定連接有第一柱塊,所述第一柱塊的一側(cè)固定連接有第二柱塊,所述第二柱塊的一側(cè)固定連接有第三柱塊,所述第三柱塊的一側(cè)固定連接有第四柱塊。該無損檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊,通過方形試塊和圓形試塊的設(shè)置,能夠?qū)Σ煌螤睢⒉煌穸群筒煌睆降脑噳K進行檢測,提高檢測結(jié)果的準(zhǔn)確度。
聲明:
“無損檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)