本發(fā)明公開了一種熱柵格掃描熱成像無損檢測(cè)方法,通過熱像儀記錄柵格熱源在薄膜表面形成的穩(wěn)態(tài)熱波的溫度信號(hào),對(duì)薄膜內(nèi)部的水平和豎直方向的裂紋進(jìn)行檢測(cè);本發(fā)明的檢測(cè)方法,降低了對(duì)熱像儀采樣頻率和信號(hào)靈敏度的要求,受薄膜表面的各種缺陷干擾少,比如表面顏色、表面元素分布等,對(duì)熱像儀信號(hào)的靈敏度要求低,尤其適用于對(duì)可以承受高溫的薄膜。
聲明:
“熱柵格掃描熱成像無損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)