本實(shí)用新型提供一種雙光路X射線無損檢測(cè)裝置，包括放射源、前準(zhǔn)直器、測(cè)量臺(tái)、被測(cè)工件、后準(zhǔn)直器、線陣探測(cè)器、康普頓探測(cè)器、保護(hù)外殼以及控制系統(tǒng)，其中前準(zhǔn)直器為無散射狹縫，后準(zhǔn)直器為高分辨率的多平行束準(zhǔn)直器。測(cè)量時(shí)，通過控制系統(tǒng)控制測(cè)量臺(tái)進(jìn)行圓周方向步進(jìn)轉(zhuǎn)動(dòng)和豎直方向的移動(dòng)，放射源、前準(zhǔn)直器、后準(zhǔn)直器、線陣探測(cè)器、康普頓探測(cè)器的中心延長(zhǎng)線均指向被測(cè)工件上的檢測(cè)部位；所述后準(zhǔn)直器設(shè)于康普頓探測(cè)器和線陣探測(cè)器前端以排除雜散射線。本實(shí)用新型使用兩條光路，不但可以進(jìn)行工件整體分析，還可以進(jìn)行工件表面分析，分辨率高，可進(jìn)行不同倍數(shù)的放大掃描，使用方便。