本發(fā)明公開了一種光激勵紅外熱成像無損檢測方法、系統(tǒng)、存儲介質(zhì)及終端,屬于光激勵紅外檢測技術(shù)領(lǐng)域,方法包括:基于L4范數(shù)建立對矩陣Y進(jìn)行稀疏表示的優(yōu)化目標(biāo)函數(shù),并通過交替迭代的方式求解優(yōu)化目標(biāo)函數(shù),進(jìn)而得到稀疏系數(shù)矩陣X;將稀疏系數(shù)矩陣X逆矩陣化,得到缺陷信息增強后的圖像序列。本發(fā)明基于L4范數(shù)建立對矩陣Y進(jìn)行稀疏表示的優(yōu)化目標(biāo)函數(shù),由于L4范數(shù)的特殊性質(zhì),使得基于L4范數(shù)的稀疏字典學(xué)習(xí)算法更易獲得與真實字典相近的字典,從而更好的恢復(fù)數(shù)據(jù)的稀疏表示,更好的提取弱缺陷信息,提高了缺陷檢測準(zhǔn)確率。
聲明:
“光激勵紅外熱成像無損檢測方法、系統(tǒng)、存儲介質(zhì)及終端” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)