本發(fā)明提供了一種基于渦流反射與透射的無(wú)損檢測(cè)方法，本方法利用常規(guī)渦流的反射作用和遠(yuǎn)場(chǎng)渦流的透射作用對(duì)鐵磁性試件的表面缺陷和深層缺陷同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)，用于識(shí)別表面與內(nèi)部缺陷且能定量分析，有效解決了單純遠(yuǎn)場(chǎng)渦流檢測(cè)方法不能有效區(qū)分鐵磁性試件內(nèi)外缺陷，而常規(guī)渦流不能解決深層缺陷檢測(cè)問(wèn)題。檢測(cè)過(guò)程中，當(dāng)渦流傳感器沿試件表面移動(dòng)時(shí)，激勵(lì)線(xiàn)圈對(duì)試件進(jìn)行飽和磁化，同軸檢測(cè)線(xiàn)圈用于檢測(cè)試件表面缺陷，激勵(lì)線(xiàn)圈外的磁屏蔽罩將直接耦合信號(hào)屏蔽，遠(yuǎn)場(chǎng)渦流檢測(cè)線(xiàn)圈所拾取的為表面和深層缺陷信號(hào)。后續(xù)的信號(hào)進(jìn)入鎖相放大器模塊、信號(hào)調(diào)理模塊，由數(shù)據(jù)采集卡采集處理后的信號(hào)在PC機(jī)顯示，實(shí)現(xiàn)鐵磁性試件內(nèi)外缺陷的分類(lèi)識(shí)別與定量分析。