本發(fā)明涉及一種絕緣紙板內(nèi)部放電痕跡的無(wú)損檢測(cè)方法及系統(tǒng),屬于掃描檢測(cè)領(lǐng)域。本申請(qǐng)以太赫茲脈沖波在介質(zhì)中的傳播特性為理論基礎(chǔ),搭建了反射式太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量系統(tǒng)(THz?TDS),利用太赫茲時(shí)、頻域光譜技術(shù)進(jìn)行缺陷類(lèi)型的判定,缺陷大小的定量,并結(jié)合快速傅里葉(FFT)變換對(duì)缺陷和正常位置的特征頻率差異進(jìn)行分析,研究對(duì)缺陷進(jìn)行快速成像的方法。
聲明:
“絕緣紙板內(nèi)部放電痕跡的無(wú)損檢測(cè)方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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