本發(fā)明公開(kāi)了一種微納光柵表面粗糙度的無(wú)損檢測(cè)方法,包括如下步驟:用去離子水、無(wú)水乙醇和異丙醇對(duì)微納光柵進(jìn)行超聲清洗,氮?dú)獯蹈蓪⑷谆?a href="http://www.189000b.com/news_show-5559.html" target="_blank">硅烷滴到表面皿中,與微納光柵一同置于真空干燥環(huán)境下,使三甲基氯硅烷充分鈍化微納光柵的表面;將固化劑加入聚二甲基硅氧烷中,混合均勻,消泡,得到PDMS混合物;將PDMS混合物倒在表面皿中,再將微納光柵置于PDMS混合物表面,將附著PDMS混合物的微納光柵置于真空干燥環(huán)境中脫氣、固化,得到凝固仍帶有微納光柵的硅膠膜;將該硅膠膜與微納光柵進(jìn)行脫模,用硅膠模進(jìn)行粗糙度測(cè)試。本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)對(duì)微納光柵表面難以測(cè)量的側(cè)壁、槽底、深孔等復(fù)雜結(jié)構(gòu)進(jìn)行采集和復(fù)制,為復(fù)雜的微納結(jié)構(gòu)表面粗糙度測(cè)試提供了新思路。
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“微納光柵表面粗糙度的無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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