本發(fā)明提供了一種無損檢測(cè)模擬試塊的制備方法及模擬試塊,方法包括:熱壓步驟:將一個(gè)試塊的待連接表面與另一試塊的待連接表面設(shè)置為彼此接觸,在0.5~0.8T的溫度和預(yù)定壓力下對(duì)兩個(gè)試塊進(jìn)行熱壓,并設(shè)定保溫時(shí)間為40~100min,其中T為試塊的熔點(diǎn);一個(gè)試塊的待連接表面與另一試塊的待連接表面中的至少一者形成有模擬缺陷;預(yù)定壓力與溫度和保溫時(shí)間相適配。本發(fā)明提供的方法可通過制備工藝參數(shù)的控制(溫度、保溫時(shí)間和壓力)可以較好的控制試塊及試塊內(nèi)部的變形,避免了現(xiàn)有技術(shù)中試塊及內(nèi)部缺陷的變形而導(dǎo)致模擬試塊的質(zhì)量降低的情況出現(xiàn)。
聲明:
“無損檢測(cè)模擬試塊的制備方法及模擬試塊” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)