本發(fā)明涉及一種LED外延片的無損測試裝置及測試方法,包括電流源及連接電流源的N極測試針、P極測試針,N極測試針、P極測試針的針頭均包有焊錫、銦?;旌系你熷a方塊,銦錫方塊的高度h的取值范圍為a≤h≤b,a是指LED外延片中N型GaN層下表面及其下面所有層的厚度和,b是指LED外延片中N型GaN層上表面及其下面所有層的厚度和。銦錫方塊與現(xiàn)有的銦粒相比,硬度大,不易變形,導(dǎo)電性好;避免了每次測試時都要用新銦粒造成的材料浪費(fèi),同時,避免銦粒粘附在LED外延片表層造成的污染等問題。
聲明:
“LED外延片的無損測試裝置及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)