一種超聲信號頻譜濾波技術無損測量涂層厚度的方法，屬于超聲無損檢測技術領域。該方法將超聲入射聲壓P入(x0)對反射聲壓P反(x1)做歸一化處理，得到涂層的歸一化聲壓反射系數(shù)R(x1-x0)，采用頻譜分析技術將R(x1-x0)展開為復數(shù)形式的傅立葉級數(shù)，并分離為獨立的實部函數(shù)Real(f)與虛部函數(shù)Imag(f)。對加窗處理得到的有效頻帶內實部函數(shù)Vreal(f)做傅里葉變換得到其功率譜M(τ)，依據(jù)功率譜各個極大值出現(xiàn)位置選擇FFT濾波帶寬，依次對Vreal(f)進行濾波得到一系列余弦函數(shù)，讀取余弦函數(shù)的周期并計算出超聲波在各涂層中的傳播聲時ti，進而結合涂層縱波聲速實現(xiàn)涂層厚度的表征。該方法不受材料屬性、工藝環(huán)境的影響，克服了常規(guī)超聲法時域發(fā)生混疊、頻譜諧振頻率難以辨識的問題，解決了多層涂層超聲測厚的難題。
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“超聲信號頻譜濾波技術無損測量涂層厚度的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網
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2025年03月21日 ~ 23日 
