本發(fā)明公開了一種基于VIS?NIR光譜分析的無損蘋果糖度測試方法,獲取所需的蘋果樣本材料,并對所得到的材料進行預處理;得到樣本材料后,利用光譜采集裝置對所選取的樣本進行光譜采集,得到待測樣本的原始光譜圖;采取樣本中的部分區(qū)域,利用數(shù)字折光儀分別對樣本的進行糖度的標定,確定每個樣本的真實糖度;使用SG卷積平滑對光譜進行預處理,對采集好的光譜進行預處理,減少光譜噪聲的影響,得到平滑后的光譜;結合所得樣本的光譜與糖度標定數(shù)據(jù),采用偏最小二乘回歸法(PLSR)建立糖度預測模型;最終結合模型對任意蘋果糖度進行檢測,并根據(jù)檢測結果對系統(tǒng)進行整體調式。本發(fā)明無損檢測,操作簡單,使用方便。
聲明:
“基于VIS-NIR光譜分析的無損蘋果糖度測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)