本實(shí)用新型推出一種磁體快速無(wú)損測(cè)試儀,其測(cè)試磁路由測(cè)試筆頭、氣隙、導(dǎo)磁墊塊、磁體限位活動(dòng)墊塊、待測(cè)磁體、溫度校正套環(huán)和充消磁線包構(gòu)成,磁體限位活動(dòng)墊塊活動(dòng)進(jìn)出外側(cè)套有溫度校正套環(huán)的待測(cè)磁體,將其限位于外部裝有氣罩的充消磁線包中心孔的中央并與磁體限位活動(dòng)墊塊等構(gòu)成閉合磁回路。采用溫度校正套環(huán)和合理的冷卻方式,使測(cè)試結(jié)果不隨溫度變化,測(cè)量精確,簡(jiǎn)便快速,不易損傷磁體,可廣泛應(yīng)用于磁體生產(chǎn)測(cè)試中。
聲明:
“磁體快速無(wú)損測(cè)試儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)