本實用新型提供一種LED光源無損實時
芯片可辯測量裝置,其包括:成像機構、投影機構、光束采集機構、光譜分析機構以及計算機;LED光源位于成像機構的一側,投影機構位于成像機構的另一側,LED光源發(fā)出的光束經成像機構投射于投影機構上,光束采集機構包括采集端以及光束傳輸通道,成像的光束經采集端的采集,沿光束傳輸通道傳輸至光譜分析機構,計算機與光譜分析機構相連接并進行數(shù)據(jù)傳輸,計算機中存儲有光譜?溫度標準曲線,計算機輸出測量結果。本實用新型能夠方便地對由多芯片組成的LED光源的結溫進行測量,并根據(jù)測量結果對LED光源的質量、使用壽命作出評價。同時,測量過程中,不必接觸LED光源,保證了測量結果的準確性和實時性。
聲明:
“LED光源無損實時芯片可辯測量裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)