本申請(qǐng)公開了一種B2B連接器無(wú)損下針測(cè)試裝置,其包括測(cè)試定位器件,測(cè)試定位器件的頂部制有用于定位被測(cè)連接器位置的連接器定位槽,連接器定位槽的槽底貫通開設(shè)有若干個(gè)豎直向下延伸的、用于定位插設(shè)測(cè)試針的插針孔;連接器定位槽和插針孔的位置如此設(shè)置:當(dāng)被測(cè)連接器被定位放置于所述連接器定位槽中,測(cè)試針自下而上貫通插入所述插針孔中并與所述被測(cè)連接器相抵觸后,僅保證所述測(cè)試針徑向側(cè)部與所述被測(cè)連接器上的PIN針接觸連接。本申請(qǐng)這種測(cè)試裝置,在保證B2B連接器測(cè)試準(zhǔn)確度的同時(shí),還能夠保證B2B連接器的結(jié)構(gòu)在測(cè)試過(guò)程中不會(huì)被測(cè)試針損壞。
聲明:
“B2B連接器無(wú)損下針測(cè)試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)