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微流控芯片內(nèi)部通道的多角度無損觀測方法及裝置

1061   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 08:57:59
本發(fā)明公開了一種微流控芯片內(nèi)部通道的多角度無損觀測方法及裝置,第一個部分為分體式夾持裝置,由左側(cè)模塊和右側(cè)模塊組成;第二個部分為主體容器,安裝分體式夾持裝置并盛放液體。為了使得大部分僅具備常規(guī)光學(xué)顯微鏡的實驗室,也能夠在不切開及破壞微流控芯片的前提下,從多個角度觀測到微流控芯片內(nèi)部通道形貌,而不僅僅只能通過頂部和底部上下兩側(cè)進行平面式的觀測??梢栽诓皇褂霉簿劢癸@微鏡等昂貴設(shè)備、不切開微流控芯片而破壞其功能的前提下,透過被切割的粗糙平面觀測到微流控芯片內(nèi)部通道的形貌特征;可以實現(xiàn)對微流控芯片內(nèi)部通道多個角度的觀測,得到所加工的平面或非平面微通道的立體而全面的幾何形貌圖像。
聲明:
“微流控芯片內(nèi)部通道的多角度無損觀測方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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