本發(fā)明公開了一種無損監(jiān)測晶界弛豫強化納米金屬的方法及工藝參數(shù)的確定方法,監(jiān)測方法包括以下步驟:(1)采用X射線衍射儀,獲取納米金屬晶界弛豫過程中的至少兩個衍射晶面的衍射圖譜;(2)計算納米金屬晶界弛豫過程中各衍射晶面的晶面間距;(3)計算納米金屬晶界弛豫過程中各衍射晶面的晶格應變。本發(fā)明首次提出利用X射線衍射技術原位監(jiān)測晶界弛豫(低溫熱處理)過程中晶面間距的變化,以平均晶格應變作為準確反映晶界弛豫程度的微觀結構特征指標,有效解決了熱處理工藝參數(shù)難以確定及晶界弛豫強化效果難以保證的問題,為利用高效低能的熱處理設計制備高性能納米金屬材料提供工藝指導和質量保證。
聲明:
“無損監(jiān)測晶界弛豫強化納米金屬的方法及工藝參數(shù)的確定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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