本發(fā)明公開了一種基于激光超聲表面波的金屬增材制件晶粒尺寸無損評定方法,該方法通過不同制備工藝或者不同的熱處理方法得到晶粒尺寸梯度分布試樣;在每一個試樣上設(shè)置相同距離的探測點,采集每個探測點的表面波信號,對采集的信號進行降噪處理并推算出表面波衰減規(guī)律;基于表面波在金屬增材制件中的衰減規(guī)律,分析表面波衰減系數(shù)與平均晶粒尺寸的關(guān)系,建立基于實驗的表面波衰減系數(shù)與平均晶粒尺寸多項式函數(shù)擬合模型,利用該模型,采用表面波對待測樣品進行檢測即可得到金屬增材制件的晶粒尺寸。
聲明:
“基于表面波的金屬增材制件晶粒尺寸的無損評定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)