一種用超聲檢測(cè)多層吸波涂層的測(cè)厚裝置及其測(cè)厚方法,屬于超聲無(wú)損檢測(cè)與評(píng)價(jià)技術(shù)領(lǐng)域。該裝置采用包括一種帶寬0~35MHz的便攜式數(shù)字超聲探傷儀、延遲塊探頭或局部水浸的超聲延遲線探頭、涂層聲速標(biāo)定試樣和集成了測(cè)厚算法的計(jì)算機(jī)構(gòu)成的測(cè)厚裝置。該裝置根據(jù)超聲回波特點(diǎn)選擇△t或fn計(jì)算涂層厚度。通過(guò)將自相關(guān)方法與聲壓反射系數(shù)功率譜方法相結(jié)合迭代加窗分析,選擇一個(gè)準(zhǔn)確的fn實(shí)現(xiàn)涂層測(cè)厚。該測(cè)厚裝置及其測(cè)厚方法克服了現(xiàn)有超聲測(cè)厚技術(shù)對(duì)探傷儀和探頭頻帶要求高、數(shù)據(jù)截取需要人工干預(yù)以及只適用于單層涂層等局限性。所用設(shè)備體積小、重量輕,適于多種基體、多層涂層外涂層的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)厚,具有較大的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益。
聲明:
“用超聲檢測(cè)多層吸波涂層的測(cè)厚裝置及其測(cè)厚方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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