本發(fā)明屬于零件檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種檢測設(shè)備和檢測方法,所述檢測設(shè)備包括:設(shè)備本體,所述設(shè)備本體上可移動設(shè)置檢測平臺、射線發(fā)射裝置和射線接收裝置,所述射線發(fā)射裝置和所述射線接收裝置分別設(shè)于所述檢測平臺兩側(cè);計(jì)算與控制模塊,用于根據(jù)所述射線發(fā)射裝置和所述射線接收裝置相對所述檢測平臺上的被檢測物品的位置關(guān)系計(jì)算移動補(bǔ)償量,并根據(jù)所述移動補(bǔ)償量控制所述檢測平臺進(jìn)行補(bǔ)償移動。本發(fā)明實(shí)施例中提供的一種檢測設(shè)備,自由改變與被測物體的距離,就能夠自由靈活調(diào)整無損檢測的放大效果,通過計(jì)算得出補(bǔ)償量,同時(shí)移動被檢測物品相應(yīng)的補(bǔ)充距離,就能夠保持需要觀測的物品的損傷位置在觀測范圍中。
聲明:
“檢測設(shè)備和檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)