本發(fā)明公開了一種材料內(nèi)缺陷檢測(cè)裝置和其缺陷檢測(cè)方法，屬于電磁無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該材料內(nèi)缺陷檢測(cè)裝置包括：外加磁場(chǎng)激勵(lì)模塊、信號(hào)檢測(cè)模塊、運(yùn)動(dòng)控制模塊、數(shù)據(jù)采集模塊、上位機(jī)、底板、支架，所述外加磁場(chǎng)激勵(lì)模塊設(shè)置于底板上，所述底板的兩側(cè)均設(shè)有支架，所述支架與信號(hào)檢測(cè)模塊連接，所述信號(hào)檢測(cè)模塊位于外加磁場(chǎng)激勵(lì)模塊的上方，所述運(yùn)動(dòng)控制模塊分別與上位機(jī)和信號(hào)檢測(cè)模塊連接，所述數(shù)據(jù)采集模塊分別與信號(hào)檢測(cè)模塊和上位機(jī)連接。本發(fā)明的缺陷檢測(cè)裝置及缺陷檢測(cè)方法擴(kuò)大了材料內(nèi)部檢測(cè)的深度和范圍，提高了檢測(cè)精度和效率。