本申請(qǐng)涉及一種電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法、裝置、檢測(cè)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。其中，電機(jī)繞組的劣化度檢測(cè)方法，包括步驟獲取待測(cè)電機(jī)繞組在各預(yù)設(shè)測(cè)試頻率下的LCR參數(shù)；根據(jù)各LCR參數(shù)以及對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)測(cè)試頻率，生成頻譜特性曲線；提取頻譜特性曲線中預(yù)設(shè)頻段的曲線，并根據(jù)預(yù)設(shè)頻段的曲線獲取最大參數(shù)值；處理最大參數(shù)值以及預(yù)設(shè)參考值，得到待測(cè)電機(jī)繞組的劣化度。該方法彌補(bǔ)了直流牽引電機(jī)繞組劣化度檢測(cè)方法的空缺。相對(duì)于傳統(tǒng)測(cè)試手段，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)電機(jī)繞組劣化度的無損測(cè)量；此方法相比單一頻率下的介電參數(shù)測(cè)試法包含更多信息。同時(shí)，根據(jù)LCR頻譜特性分析，能夠完善牽引電機(jī)繞組劣化度的數(shù)據(jù)評(píng)估體系，可以對(duì)機(jī)車大修規(guī)程的優(yōu)化提供參考。