本發(fā)明屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種用于線圈法磁粉檢測(cè)的試件以及該試件的檢測(cè)方法。檢測(cè)方法,包括以下步驟:將試件固定在磁探檢測(cè)臺(tái)兩個(gè)夾頭之間,使試件位于線圈的中心位置并保持水平;對(duì)線圈通電形成磁場(chǎng)并對(duì)試件施加磁粉或磁懸液獲得磁痕;記錄磁化電流大小和磁痕的長(zhǎng)度;依據(jù)公式計(jì)算出磁粉檢測(cè)深度。本發(fā)明所提供的試件能夠用于線圈法磁粉檢測(cè)近表面環(huán)向缺陷可檢深度,該試件的檢測(cè)方法,能夠用于檢測(cè)鐵磁性材料縱長(zhǎng)工件近表面環(huán)向缺陷可檢深度的工藝靈敏度、分辨率、可靠性驗(yàn)證,優(yōu)化線圈法磁粉檢測(cè)工藝參數(shù),提高該類型工件近表面環(huán)向缺陷檢測(cè)能力。
聲明:
“用于線圈法磁粉檢測(cè)的試件以及該試件的檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)