本發(fā)明涉及小麥品質檢測技術領域,尤其是一種快速預測小麥烘焙品質的檢測方法。該種快速預測小麥烘焙品質的檢測方法,包括如下步驟:收集小麥樣本、小麥樣本光譜采集、光譜數(shù)據(jù)預處理、國標法檢測小麥烘焙效果、校正集和預測集樣本的選取、烘焙品質預測模型的建立與篩選和小麥檢測分析。本發(fā)明的一種快速預測小麥烘焙品質的檢測方法,利用近紅外光譜儀,掃描得到小麥的光譜圖,通過不同預處理方法處理光譜信息,得到測定小麥烘焙效果方包高度的近紅外校正模型;在實際操作中,通過近紅外儀器掃描小麥,即可得到小麥烘焙方包的高度數(shù)值,從而預測小麥的烘焙品質;此方法具有無損、綠色、高效、準確的特點,可以實現(xiàn)2s內(nèi)對小麥烘焙品質進行判定。
聲明:
“快速預測小麥烘焙品質的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)