本申請(qǐng)公開了一種熔接質(zhì)量檢測(cè)方法及裝置,該方法包括:獲取利用超聲波相控陣檢測(cè)裝置對(duì)熔接接頭進(jìn)行檢測(cè)后生成的無(wú)損檢測(cè)圖像。根據(jù)無(wú)損檢測(cè)圖像,識(shí)別出熔接接頭中熔接部的熔接面線以及熔接面線兩側(cè)的相變邊界。之后,根據(jù)熔接面線與兩側(cè)的相變邊界之間的間距進(jìn)行熔接質(zhì)量分析,即可獲得質(zhì)量分析結(jié)果。可見,實(shí)施本申請(qǐng)實(shí)施例,實(shí)現(xiàn)了對(duì)熔接接頭的非破壞性檢測(cè),能夠針對(duì)性地基于熔融區(qū)進(jìn)行熔接質(zhì)量分析,能夠有效識(shí)別并分析熔融區(qū)缺陷,操作快捷方便。
聲明:
“熔接質(zhì)量檢測(cè)方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)