本發(fā)明屬于農(nóng)產(chǎn)品無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種基于嵌入式的蘋果成熟度檢測系統(tǒng)及方法，對光譜聚類分析用新的低維數(shù)據(jù)替代原始的高位數(shù)據(jù)，提取蘋果成熟度的特征波長；劃分?jǐn)?shù)據(jù)樣本的訓(xùn)練集和預(yù)測集，得到支持向量機(jī)模型中的懲罰參數(shù)c和核函數(shù)參數(shù)g；構(gòu)建蘋果成熟度的分類模型；獲取樣本蘋果特征光譜數(shù)據(jù)，并構(gòu)建蘋果成熟度分類模型；以蘋果成熟度分類模型為核心，編寫融合蘋果成熟度分類模型的控制程序，實(shí)現(xiàn)蘋果成熟度的無損預(yù)測。本發(fā)明減少了間接量的預(yù)測，降低了工作復(fù)雜程度，提高了工作效率和精度；設(shè)計(jì)小型化的印制電路板，植入嵌入式的的操作系統(tǒng)，設(shè)計(jì)完成小型便攜的蘋果成熟度快速分類設(shè)備。