本發(fā)明涉及無損檢測(cè)領(lǐng)域,提供一種基于微納CT的微裂紋原位檢測(cè)裝置。該裝置通過加載后產(chǎn)生較大的加載力,使金屬試樣中的微裂紋克服閉合效應(yīng),達(dá)到張開的目的,同時(shí)結(jié)合微納CT實(shí)現(xiàn)微裂紋的檢測(cè)。該裝置尺寸小、操作便捷,通過各部分相互配合形成加載力的內(nèi)部閉環(huán),支撐罩的鏤空框架結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)在確保有足夠的結(jié)構(gòu)剛度時(shí)避免了射線源和探測(cè)器之間射線的傳播路徑上非檢測(cè)材料的影響;該裝置能夠單獨(dú)實(shí)現(xiàn)試樣自身的旋轉(zhuǎn),避免了檢測(cè)時(shí)復(fù)雜的機(jī)械系統(tǒng);檢測(cè)中采用VGStudio軟件重建投影圖像的三維數(shù)據(jù),并采用Avizo軟件高效率處理數(shù)據(jù)獲得微裂紋的三維特征。該方法綜合考慮了微裂紋的檢測(cè)難點(diǎn)和微納CT的技術(shù)特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)了原位微米級(jí)裂紋的檢測(cè)。
聲明:
“基于微納CT的微裂紋原位檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)