本發(fā)明涉及一種高分辨率錯(cuò)位陣列超聲B/C掃描檢測(cè)裝置及方法，屬于無損檢測(cè)領(lǐng)域。檢測(cè)裝置包括錯(cuò)位陣列超聲探頭、X向運(yùn)動(dòng)裝置、超聲采集卡、電機(jī)控制卡和工業(yè)計(jì)算機(jī)，錯(cuò)位陣列超聲探頭與超聲采集卡和工業(yè)計(jì)算機(jī)相連，對(duì)各超聲振元進(jìn)行激勵(lì)，實(shí)現(xiàn)超聲信號(hào)的發(fā)射/接收及信號(hào)處理；X向運(yùn)動(dòng)裝置并與電機(jī)控制卡和工業(yè)計(jì)算機(jī)相連，對(duì)電機(jī)運(yùn)動(dòng)進(jìn)行控制和反饋，實(shí)現(xiàn)對(duì)錯(cuò)位陣列超聲探頭的運(yùn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)和位置信息采集；錯(cuò)位陣列超聲探頭安裝在X向運(yùn)動(dòng)裝置上，并在X向運(yùn)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)下實(shí)現(xiàn)X向運(yùn)動(dòng)。檢測(cè)方法將錯(cuò)位陣列超聲探頭與X向運(yùn)動(dòng)裝置組合，通過機(jī)械掃查和電子掃查相結(jié)合，最終實(shí)現(xiàn)工件內(nèi)部連接狀態(tài)的高效率、高分辨率、低成本的超聲B/C掃描檢測(cè)。