本發(fā)明屬于無損檢測技術領域,具體涉及一種變厚度鈦合金構件的雙膠片射線照相檢測方法。針對變厚度鈦合金構件,本方法采用兩張相同感光度的膠片,其中一張膠片置于兩塊鉛增感屏中間靠近構件放置,由于鉛增感屏增感作用,可以使該張膠片對于厚的區(qū)域具有較好的檢測靈敏度;另一張膠片則置于其后,此時兩塊增感屏一方面起到降低散射的作用,另一方面則起到降低透照電壓的作用,從而使該張膠片對于薄的區(qū)域具有較好的檢測靈敏度。根據(jù)厚的區(qū)域選擇透照參數(shù),從而實現(xiàn)一次對兩個區(qū)域的透照。對于變厚度鈦合金構件,本發(fā)明能夠在減少透照次數(shù),提高工作效率的同時,具有較好的檢測靈敏度,具有實際應用價值。
聲明:
“變厚度鈦合金構件的雙膠片射線照相檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)