本實(shí)用新型涉及無損光譜檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種單點(diǎn)光源的光譜
檢測(cè)儀,包括殼體、電源、處理器、檢測(cè)器、光源和濾光片陣,電源為內(nèi)置式或外置式并分別與處理器、檢測(cè)器、光源和濾光片陣相連,處理器設(shè)置在殼體內(nèi)部并分別與檢測(cè)器、光源和濾光片陣相連,檢測(cè)器設(shè)置于殼體前端,光源設(shè)置在檢測(cè)器上,濾光片陣環(huán)繞光源均勻地覆蓋在檢測(cè)器剩余的外表面,光源平行于濾光片陣。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型提供的光譜檢測(cè)儀,光源與濾光片陣設(shè)置在同一平面或兩者保持平行并且錯(cuò)開設(shè)置,避免了回返的光譜信號(hào)阻擋光源或光源干擾光譜信號(hào),濾光片陣設(shè)置在光源的四周,形成單點(diǎn)發(fā)射多點(diǎn)收集的效果,從而能夠獲取穩(wěn)定的、高信噪比的光譜信號(hào)。
聲明:
“單點(diǎn)光源的光譜檢測(cè)儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)