本發(fā)明公開了一種
復(fù)合材料試件低速?zèng)_擊損傷的太赫茲?rùn)z測(cè)方法及其裝置,涉及復(fù)合材料試件無損檢測(cè)領(lǐng)域,包括測(cè)試平臺(tái)底座、信號(hào)處理器,所述測(cè)試平臺(tái)底座的上端固定安裝有連接板,所述連接板的上端固定安裝有橫板,所述橫板的下端側(cè)壁固定安裝有電動(dòng)滑軌,所述電動(dòng)滑軌內(nèi)滑動(dòng)連接有電動(dòng)滑塊,所述電動(dòng)滑塊的下端固定連接有信號(hào)發(fā)射器,所述發(fā)射器的側(cè)壁固定安裝有信號(hào)接收器,所述信號(hào)接收器與信號(hào)處理器通過電線電性連接,所述信號(hào)處理器與信號(hào)發(fā)射器電性連接,通過電動(dòng)滑軌、電動(dòng)滑塊、信號(hào)發(fā)射器、信號(hào)接收器、信號(hào)處理器之間的配合使用,實(shí)現(xiàn)了對(duì)信號(hào)發(fā)射器的縱向移動(dòng),同時(shí)通過安裝盒的橫向移動(dòng),實(shí)現(xiàn)了對(duì)待測(cè)復(fù)合材料試件的整體檢測(cè)。
聲明:
“復(fù)合材料試件低速?zèng)_擊損傷的太赫茲?rùn)z測(cè)方法及其裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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