本發(fā)明公開(kāi)了一種金屬電導(dǎo)率渦流檢測(cè)方法，包括以下步驟：1)選擇電導(dǎo)率分別為σ1、σ2的兩個(gè)試件作為標(biāo)準(zhǔn)試件；2)綜合考慮以確定合適的激勵(lì)頻率f；3)將連接阻抗分析儀的探頭分別置于兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試件的上方，測(cè)得阻抗：Z1＝R1+X1，Z2＝R2+X2；4)通過(guò)厚度為1mm的標(biāo)準(zhǔn)墊片分別測(cè)得探頭置于兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試件上方提離為1mm時(shí)的阻抗：ZT1＝RT1+XT1，ZT2＝RT2+XT2，將其作為基準(zhǔn)，與3)中的阻抗值差分處理，構(gòu)造關(guān)鍵點(diǎn)A、B；5)由A、B兩點(diǎn)得出目標(biāo)函數(shù)。6)對(duì)待檢金屬按以上步驟操作得到|ΔX/ΔR|并帶入5)中得出的目標(biāo)函數(shù)以求電導(dǎo)率σ。本發(fā)明采用渦流技術(shù)檢測(cè)金屬電導(dǎo)率，對(duì)試件無(wú)損，檢測(cè)環(huán)境要求低，檢測(cè)精度高，檢測(cè)小電導(dǎo)率金屬材料分辨率高，并且檢測(cè)時(shí)所需參數(shù)少，同時(shí)克服了現(xiàn)有金屬電導(dǎo)率檢測(cè)儀需要校準(zhǔn)的局限性。