本發(fā)明公開了一種基于混合模擬退火與遺傳算法的面粉質(zhì)量檢測方法。主要包括:通過紅外光譜儀掃描面粉,獲得光譜信息,對面粉光譜進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)變量變換消除固體顆粒和表面散射;利用遺傳算法全局搜索最優(yōu)的光譜信號特征,并用模擬退火算法尋找遺傳算法中的最優(yōu)個體,實現(xiàn)全局搜索與局部搜索相結(jié)合;對特征矢量進(jìn)行預(yù)處理,通過徑向基神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)構(gòu)造分類器,對處理后的特征矢量進(jìn)行分類,完成面粉質(zhì)量檢測。該方法具有較好的魯棒性和穩(wěn)健性,通過光譜預(yù)處理去除光譜噪聲,降低模型復(fù)雜度,提高運算效率,遺傳算法與模擬退火算法相結(jié)合,增強模型的全局和局部尋優(yōu)能力,利用徑向基神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)提高面粉質(zhì)量檢測的準(zhǔn)確度,實現(xiàn)無損檢測。
聲明:
“基于混合模擬退火與遺傳算法的面粉質(zhì)量檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)