本發(fā)明公開了一種基于光子傳輸模擬的蘋果高光譜品質(zhì)檢測方法。本發(fā)明分析了光子入射最佳位置和源探距離,并用點光源高光譜儀實際拍攝紅富士蘋果進行驗證。分析表明,光子在蘋果赤道位置入射,具有73.12%概率到達更深的深度。源探位置與蘋果的光學(xué)參數(shù)有關(guān),形狀為圓環(huán),其源探內(nèi)外徑位置半徑為1.5mm?10.15mm。點光源高光譜儀采集的紅富士蘋果入射位置為赤道,源探位置為半徑為3.6mm?10.8mm的圓環(huán),與模擬數(shù)據(jù)分析結(jié)果基本一致。蒙特卡洛光子傳輸模擬方法為研究高光譜蘋果品質(zhì)無損檢測開辟了新思路,分析結(jié)果可以為研究高光譜品質(zhì)檢測實驗設(shè)計和蘋果便攜式品質(zhì)檢測光學(xué)儀器設(shè)計提供理論基礎(chǔ)。
聲明:
“基于光子傳輸模擬的蘋果高光譜品質(zhì)檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)