本發(fā)明屬于無損檢測技術(shù),涉及一種利用圖譜進(jìn)行單晶高溫合金葉片腐蝕坑滲透檢測的方法。本發(fā)明采用不同嚴(yán)重程度的腐蝕工藝在加工好的單晶高溫合金平板型試樣上制作出不同嚴(yán)重程度的腐蝕坑缺陷圖譜。本發(fā)明能成功制作出具有不同級別的腐蝕坑缺陷試樣,成功獲取不同級別腐蝕坑缺陷熒光顯示圖譜,制作過程容易控制,制作出的腐蝕坑缺陷與實(shí)際發(fā)動(dòng)機(jī)葉片上的腐蝕坑缺陷相一致,其特別適用于發(fā)動(dòng)機(jī)單晶葉片的滲透檢測中腐蝕坑缺陷熒光顯示的判斷和評價(jià)。
聲明:
“利用圖譜進(jìn)行單晶高溫合金葉片腐蝕坑滲透檢測的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)