用于超聲檢驗設(shè)備的檢驗頭(100),用于在檢驗件相對于所述檢驗頭沿檢驗方向相對運動的情況下的無損材料檢驗,包括:檢驗頭殼體(110),其沿檢驗方向定義縱向方向(L)和垂直于所述檢驗方向地定義橫向方向(Q);以及多個發(fā)送?接收單元(150?1,150?2,150?3)。每個發(fā)送?接收單元具有發(fā)送器元件(T1,T2,T3)和相關(guān)聯(lián)的接收器元件(R1,R2,R3),并且在橫向方向(Q)上定義有效檢驗寬度(PB1,PB2,PB3),使得當檢驗件相對于檢驗頭沿檢驗方向相對運動時能夠通過發(fā)送?接收單元檢驗具有有效檢驗寬度的檢驗軌道。發(fā)送?接收單元布置在至少兩個在縱向方向(L)上連續(xù)并且在橫向方向(Q)上延伸的行(155?1,155?2)中。來自不同行的發(fā)送?接收單元在橫向方向(Q)上相互偏移,使得相互偏移的發(fā)送?接收單元的接收器元件(R1,R2,R3)在重疊區(qū)域(U1?2,U2?3)中彼此重疊,使得發(fā)送?接收單元的整體無間隙地覆蓋有效檢驗頭?檢驗寬度(PKPB)。所有發(fā)送?接收單元布置在檢驗頭殼體(110)中。所有發(fā)送器元件(T1,T2,T3)電連接到檢驗頭的公共發(fā)送器連接元件(AT)。
聲明:
“超聲檢驗頭和超聲檢驗設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)