本發(fā)明涉及GCL膨潤(rùn)土檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種利用光照探測(cè)GCL膨潤(rùn)土鋪設(shè)均勻度的探測(cè)裝置,包括光照系統(tǒng),發(fā)出光源并覆蓋整個(gè)GCL膨潤(rùn)土幅寬;光源接收系統(tǒng),用于接收所述光照系統(tǒng)透過(guò)膨潤(rùn)土層和載布層的光源;及數(shù)據(jù)分析處理系統(tǒng),用于接收所述光源接收系統(tǒng)傳遞的信息,并通過(guò)對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)圖像或數(shù)據(jù)設(shè)定值,判斷膨潤(rùn)土鋪設(shè)均勻度是否符合要求;該探測(cè)裝置能夠?qū)崿F(xiàn)在GCL生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)膨潤(rùn)土鋪設(shè)均勻度進(jìn)行在線監(jiān)測(cè),準(zhǔn)確度高、效率高,且檢測(cè)過(guò)程對(duì)GCL膨潤(rùn)土無(wú)損壞;并提供一種利用光照探測(cè)GCL膨潤(rùn)土鋪設(shè)均勻度的探測(cè)方法。
聲明:
“利用光照探測(cè)GCL膨潤(rùn)土鋪設(shè)均勻度的探測(cè)裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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