本發(fā)明公開(kāi)了一種用于物質(zhì)的太赫茲精細(xì)譜探測(cè)儀,采用室溫相干太赫茲源和檢測(cè)方法,包括發(fā)射支路和接收支路,發(fā)射支路和接收支路均設(shè)計(jì)有太赫茲倍頻鏈陣列,通過(guò)太赫茲倍頻鏈陣列來(lái)產(chǎn)生連續(xù)太赫茲波;太赫茲倍頻鏈陣列根據(jù)實(shí)際測(cè)量需求設(shè)計(jì)有具體的分段數(shù),利用這種太赫茲倍頻鏈陣列可以實(shí)現(xiàn)0.1?1.5?THz范圍全覆蓋;因此本發(fā)明,可以測(cè)量物質(zhì)的太赫茲精細(xì)譜,譜分辨率可達(dá)百KHz,比THz?TDS系統(tǒng)提升三個(gè)量級(jí);本發(fā)明采用全固態(tài)方式實(shí)現(xiàn),易于集成,可靠性高;進(jìn)一步的,采用自由空間法測(cè)量物質(zhì)的透射譜,具有校準(zhǔn)方便、對(duì)待測(cè)樣品無(wú)損傷的優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“太赫茲精細(xì)譜探測(cè)儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)