本發(fā)明是一種I型裂紋的應(yīng)力強(qiáng)度因子測(cè)定方法,該方法的步驟如下:步驟一、采用無損檢測(cè)技術(shù)確定結(jié)構(gòu)中I型裂紋的位置,然后測(cè)量I型裂紋的表面長(zhǎng)度αL;步驟二、沿I型裂紋的表面長(zhǎng)度αL,測(cè)量I型裂紋的埋藏深度αD;步驟三、對(duì)結(jié)構(gòu)中的I型裂紋進(jìn)行受力分析,確定外加應(yīng)力σ;步驟四、根據(jù)步驟一、步驟二中確定的I型裂紋的幾何特征,通過查詢相關(guān)材料手冊(cè)獲得I型裂紋的形狀因子Y;步驟五、以I型裂紋的表面長(zhǎng)度αL、埋藏深度αD、外加應(yīng)力σ和形狀因子Y作為輸入,采用解析計(jì)算法/數(shù)值法求解I型裂紋的應(yīng)力強(qiáng)度因子。該方法工序簡(jiǎn)單但精度很高,能夠有效提高I型應(yīng)力強(qiáng)度因子計(jì)算結(jié)果的精度和置信度。
聲明:
“I型裂紋的應(yīng)力強(qiáng)度因子測(cè)定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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