本發(fā)明公開了一種物體形變電磁監(jiān)測裝置及方法,采用電磁無損檢測方法,裝置包括多個(gè)電磁檢測線圈、電磁
檢測儀器、監(jiān)測數(shù)據(jù)管理系統(tǒng),將多個(gè)電磁檢測線圈級(jí)聯(lián)式分布固定在被監(jiān)測物體的監(jiān)測部位表面或嵌入固定在監(jiān)測部位內(nèi)部,并根據(jù)被監(jiān)測物體的監(jiān)測部位結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和監(jiān)測要求以線陣列或面陣列或空間三維陣列形式分布固定,其中至少一個(gè)電磁檢測線圈作為激勵(lì)線圈,與電磁檢測儀器的信號(hào)激勵(lì)端電連接,其余多個(gè)電磁檢測線圈既為接收線圈也為激勵(lì)線圈,與電磁檢測儀器的信號(hào)接收端電連接,通過監(jiān)測與電磁檢測儀器信號(hào)接收端電連接的多個(gè)電磁檢測線圈的感應(yīng)電流信號(hào)參數(shù)的變化,間接監(jiān)測被監(jiān)測物體監(jiān)測部位的結(jié)構(gòu)狀態(tài)變化,可獲得實(shí)時(shí)有效的結(jié)構(gòu)狀態(tài)變化監(jiān)測結(jié)果,尤其適用于對(duì)稱物體的不對(duì)稱形變監(jiān)測工作。
聲明:
“物體形變電磁監(jiān)測裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)