本發(fā)明涉及一種能夠在寬的波長(zhǎng)范圍內(nèi)選擇X射線管陽(yáng)極靶材的某一特征X射線,測(cè)量被測(cè)晶體材料樣品X射線衍射譜的多波長(zhǎng)特征X射線衍射測(cè)量裝置和方法。其裝置包括X射線管、高壓發(fā)生器、狹縫、測(cè)角儀、探測(cè)器、多道分析器等。本發(fā)明免除了濾波片或晶體單色器等的使用而導(dǎo)致特征X射線強(qiáng)度的大幅度衰減,通過(guò)調(diào)節(jié)X射線管的管電壓和多道分析器的上、下閾,就能夠選取測(cè)量所需波長(zhǎng)的特征X射線,就能夠在同一套裝置上,既可以無(wú)損地測(cè)量樣品表面的(波長(zhǎng)較長(zhǎng)的特征X射線)衍射線又可以無(wú)損地測(cè)量樣品內(nèi)部的(波長(zhǎng)較短的特征X射線)衍射線,而且,本發(fā)明所述具有操作簡(jiǎn)便,檢測(cè)時(shí)間較短,掃描測(cè)得的特征X射線衍射譜真實(shí)、可靠。
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“多波長(zhǎng)特征X射線衍射測(cè)量裝置和方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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