本發(fā)明公開(kāi)了一種新的超窄帶、大角度的高性能折射率傳感器件設(shè)計(jì)方案,并進(jìn)一步提出該傳感器件的靈敏度測(cè)試方法,該測(cè)試方法成本較低,在生物、醫(yī)學(xué)、食品等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用?;诒砻娴入x子體共振的傳感技術(shù),具有設(shè)計(jì)方案簡(jiǎn)單、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、加工技術(shù)要求低、制備成本低、無(wú)需標(biāo)定、實(shí)時(shí)檢測(cè)、非接觸、無(wú)損傷、超窄帶、大角度等突出特點(diǎn),較高的靈敏度可用于氣體、液體和生物膜等的
分析檢測(cè),展示了巨大的應(yīng)用前景,有望發(fā)展為具有超高檢測(cè)靈敏度的新型表面等離子體傳感器件及其測(cè)試方法。
聲明:
“超窄帶、大角度的高性能折射率靈敏度傳感器件及其測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)