本發(fā)明創(chuàng)造應(yīng)用于超聲波無損檢測領(lǐng)域,薄壁結(jié)構(gòu)超聲共振測厚頻譜分析內(nèi)插校正方法。包括:步驟1、采用超聲共振法進行薄壁結(jié)構(gòu)檢測,獲取薄壁結(jié)構(gòu)的表面回波和共振回波;步驟2、對共振回波信號截取指定長度的樣本進行傅里葉變換,得到頻譜;步驟3、采用內(nèi)插法對所述頻譜進行校正;步驟4、計算壁厚度。本發(fā)明利用頻譜內(nèi)插校正方法,可以提高周期信號頻譜頻率估計精度。針對超聲共振測厚信號,可以在不提高采樣頻率的前提下,減小共振頻率的測量誤差,能夠減小分析誤差,實現(xiàn)薄壁結(jié)構(gòu)厚度損失的精確估計,提高分析壁厚的精度。
聲明:
“薄壁結(jié)構(gòu)超聲共振測厚頻譜分析內(nèi)插校正方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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