本實(shí)用新型公開了一種探測固體材料表面及亞表面光學(xué)吸收的裝置,通過泵浦光束照射樣品來激發(fā)固體材料的紅外輻射,同時(shí)利用泵浦光束所激發(fā)的紅外輻射在特定波段對(duì)一些固體材料穿透深度非常有限的物理特性來獲得固體材料表面及亞表面對(duì)泵浦光束的光學(xué)吸收特性。本實(shí)用新型可以用于光熱無損探傷、光熱精密檢測、固體材料表面及亞表面吸收特性探測等多個(gè)領(lǐng)域。
聲明:
“探測固體材料表面及亞表面光學(xué)吸收的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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