本發(fā)明公開了一種頁巖儲層納米孔隙結(jié)構(gòu)特征參數(shù)測試分析方法及系統(tǒng),該方法包括:采集頁巖樣品的二維斷層圖像;基于所述頁巖樣品的二維斷層圖像,重新建立三維圖像;基于所述三維圖像,獲得頁巖納米孔隙結(jié)構(gòu)特征參數(shù);本發(fā)明的技術(shù)方案,利用納米CT技術(shù)無損檢測頁巖儲層巖心獲取頁巖孔隙結(jié)構(gòu)圖像,可在納米尺度下準(zhǔn)確、快速地分析頁巖儲層巖心孔隙結(jié)構(gòu)特征參數(shù)。
聲明:
“頁巖儲層納米孔隙結(jié)構(gòu)特征參數(shù)測試分析方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)