本發(fā)明公開一種無需參考樣本的熱障涂層陶瓷層太赫茲測厚方法,將太赫茲時域光譜系統(tǒng)發(fā)射的太赫茲波垂直入射熱障涂層,垂直入射的太赫茲波在陶瓷層內(nèi)多次反射,獲取前三次回波信號的振幅;根據(jù)計算前三次回波信號的平均振幅,得到振幅強度,根據(jù)振幅強度,計算陶瓷層的折射率;根據(jù)陶瓷層的折射率,計算陶瓷層的厚度。本發(fā)明提出的方法使用太赫茲時域信號,在無需參考樣本的前提下便能夠?qū)崿F(xiàn)熱障涂層陶瓷層厚度的非接觸、高效、無損檢測。
聲明:
“無需參考樣本的熱障涂層陶瓷層太赫茲測厚方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)