本發(fā)明公開了一種基于背向補(bǔ)償?shù)耐该骰妆∧ず穸葴y量系統(tǒng),包括:光源、光譜儀、反射率光纖探頭、測量平臺(tái)和PC機(jī),反射率光纖探頭設(shè)于測量平臺(tái)上方,分別與光源、光譜儀連接,光譜儀與PC機(jī)連接;光源發(fā)出的光經(jīng)過反射率光纖探頭照射到放置在測量平臺(tái)上的待測具有透明基底的薄膜上,基底以及薄膜的反射光同時(shí)又進(jìn)入反射率光纖探頭后被光譜儀接收,接受的數(shù)據(jù)經(jīng)過PC機(jī)的補(bǔ)償處理計(jì)算,得到薄膜各層的實(shí)際厚度。本發(fā)明系統(tǒng)無須在樣片背面涂覆消光物質(zhì)來消除背向反射,無需破壞薄膜基底。本發(fā)明系統(tǒng)具有簡單靈活,自動(dòng)適應(yīng)各種不同材料不同厚度的透明基底,整個(gè)系統(tǒng)具有結(jié)構(gòu)簡單,成本較低,小型化,無損探測等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“基于背向補(bǔ)償?shù)耐该骰妆∧ず穸葴y量系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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