本發(fā)明提供了一種微波元件的自校準高精度微波測量夾具及校準方法,該測量夾具有一個基座單元,所述基座單元上安裝有連接單元、固定單元、測量單元、壓緊單元;所述的連接單元和測量單元可以在基座單元上移動;所述的固定單元包括固定座、同軸連接器,所述的固定單元固定于所述的基座單元的安裝座的左凸臺上,所述的測量單元包括測量單元座、微帶電路板、載片以及鎖孔,所述的連接單元包括連接單元座、同軸連接器、絲桿、旋轉手柄。本發(fā)明的測量夾具操作方便,適用性廣,采用壓接的方式固定被測微波元件,不需要另外的固定或者焊接,保證了被測微波元件固定良好,一方面是對被測微波元件的無損傷測量,另一方面適用于大批量產(chǎn)品的測量。
聲明:
“自校準高精度微波測量夾具及校準方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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